Автор: Николаев Кирилл Олегович

Название:Application of the Selective Silicon Etching Methods for Estimation of the Wafers Quality in the Micromechanical Sensors
Тематика:техника
Вид ресурса:электронная копия бумажного издания
Тип ресурса:Статья
Целевое назначение:Научное
Целевая аудитория:Исследователь
Дата издания:2019
Дата загрузки:20.09.2019
Издательство:Издательство Национального исследовательского университета Высшая школа экономики (НИУ ВШЭ)
ИР получен из базы данных "Scopus" автоматически
Название:КОНСТРУКЦИИ И ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ РЕЖИМЫ ФОРМИРОВАНИЯ ЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ МИКРОЭЛЕКТРОННЫХ ДАТЧИКОВ БЫСТРОПЕРЕМЕННОГО И СТАТИЧЕСКОГО ДАВЛЕНИЯ
Тематика:техника
Вид ресурса:электронная копия бумажного издания
Тип ресурса:Статья
Целевое назначение:Научное
Целевая аудитория:Исследователь
Дата издания:2019
Дата загрузки:14.10.2019
Издательство:Изд. ПГУ
Название:ФОНД ТЕСТОВЫХ ЗАДАНИЙ ПО ДИСЦИПЛИНЕ "ТЕОРИЯ НАДЕЖНОСТИ И КАЧЕСТВА ЭЛЕКТРОННОЙ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ (индексация РИНЦ)
Тематика:техника
Вид ресурса:электронная копия бумажного издания
Тип ресурса:Сборники контрольных заданий
Целевое назначение:Учебное
Целевая аудитория:Учащийся
Дата издания:2019
Дата загрузки:27.11.2019
Издательство:Федеральная служба по интеллектуальной собственности
Название:монография «Методы и средства измерений электрофизических параметров сегнетоэлектриков»
Тематика:техника
Вид ресурса:электронная копия бумажного издания
Тип ресурса:Монография, изданная российскими издательствами (наличие ISBN, зарегистрированная в Российской книжной палате)
Целевое назначение:Научное
Целевая аудитория:Исследователь
Дата издания:2019
Дата загрузки:23.11.2019
Издательство:Федеральная служба по интеллектуальной собственности