Главная
» Электронная библиотека » Контроль технического состояния резистивных потенциометров с применением растровой электронной микроскопии
Контроль технического состояния резистивных потенциометров с применением растровой электронной микроскопии
| Категория: | техника | |
| Авторы (ПГУ): | Светлов Анатолий Вильевич [25]  , Ишков Антон Сергеевич [25] , Солодимова Галина Анатольевна [25] , Торгашин Сергей Иванович [25] | |
| Тип: | Статья | |
| Вид: | электронная копия бумажного издания | |
| Количество частей: | 1 | |
| Год издания: | 2017 | |
| Издательство: | Издательство ПГУ | |
| Где опубликовано: | Журнал | |
| Целевая аудитория: | Исследователь | |
| Целевое назначение: | Научное | |
| Лицензия: | Нет ограничений | |
| Ограничения: | Нет ограничений | |
| Правообладатель: | ПГУ | |
| Внешняя веб-ссылка: | https://imuk.pnzgu.ru/files/imuk.pnzgu.ru/imuk_4_22_.pdf | |
| Язык: | Русский | |
| Место хранения: | ПГУ, вне электронной библиотеки | |
| Дата размещения: | 08.11.2018 | |
| Владелец: | Колдов Александр Сергеевич | |
| Ссылка на ресурс: | http://elib.pnzgu.ru/library/14072300  | |
| Формат: | Не указан |