Главная
» Электронная библиотека » MEASUREMENT OF THE PARAMETERS OF MIS STRUCTURES WITH COMPENSATION OF THE EFFECT OF THE CAPACITANCE OF THE DIELECTRIC.
MEASUREMENT OF THE PARAMETERS OF MIS STRUCTURES WITH COMPENSATION OF THE EFFECT OF THE CAPACITANCE OF THE DIELECTRIC.
ИР автоматически получен из ЭБС Scoupus
| Категория: | физико-математические науки | |
| Авторы (ПГУ): | Чайковский Виктор Михайлович [100]  | |
| Тип: | Статья | |
| Вид: | электронное немультимедийное издание | |
| Количество частей: | 1 | |
| Год издания: | 1987 | |
| Место опубликования: | Instruments and experimental techniques New York | |
| Индексация: | Scopus, входящем в 3(Q3) и 4 (Q4) квартили (тип документа Article, Review, Proceedings Paper, Book Chapter) | |
| Лицензия: | Нет ограничений | |
| Ограничения: | Нет ограничений | |
| Внешняя веб-ссылка: | https://www.scopus.com/inward/record.uri?partnerID=HzOxMe3b&scp=0023342243&origin=inward | |
| Язык: | Русский | |
| Дата размещения: | 06.11.2019 | |
| Ссылка на ресурс: | http://elib.pnzgu.ru/library/1572994123  | |
| Формат: | Не указан |