Measuring complex for testing pulsed thermoelectronic training of electronic components

ИР автоматически получен из ЭБС Scoupus
Категория: техника
Ресурс закрыт от публичного доступа. С целью получения доступа обратитесь к правообладателю
Авторы (ПГУ): Ишков Антон Сергеевич [50]  , Солодимова Галина Анатольевна [50]  
Аннотация: Thermal-electric testing is one of the obligatory types of testing in the development of electronic products and their mass production. Exposure to elevated temperature and electrical load allows accelerating the processes in the structure of materials of the product, leading to the appearance of defects and subsequent failures. The automated measuring complex has been developed with the aim of increasing the reliability and efficiency of testing electronic components, in particular, microcircuits of sets of resistors. The complex provides an impact on the object test voltage up to 200V at temperatures up to 2500C. The distinguishing features of the complex are the presence of electronic commutation of power circuits, the rapid acquisition of data on the testing process in electronic form. High metrological characteristics, automation of the measurement process allows to increase the reliability of tests while reducing time and material resources.
Тип: Статья
Вид: электронная копия бумажного издания
Количество частей: 1
Год издания: 2019
Издательство: 2019 International Seminar on Electron Devices Design and Production (SED), Prague, Czech Republic
Где опубликовано: Зарубежный журнал
Место опубликования: 2019 International Seminar on Electron Devices Design and Production, SED 2019 - Proceedings
Целевая аудитория: Исследователь, Промышленность
Целевое назначение: Производственно-практическое
Отрасль науки: 05.11.16 Информационно-измерительные и управляющие системы (по отраслям)
Лицензия: Нет ограничений
Ограничения: Нет ограничений
Правообладатель: The Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI: 10.1109/SED.2019.8798443
Библиографическая ссылка: Anton, I., & Galina, S. (2019). Measuring complex for testing pulsed thermoelectronic training of electronic components. Paper presented at the 2019 International Seminar on Electron Devices Design and Production, SED 2019, doi:10.1109/SED.2019.8798443
Внешняя веб-ссылка: https://www.scopus.com/inward/record.uri?partnerID=HzOxMe3b&scp=85071936661&origin=inward
Язык: Английский
Место хранения:Электронная библиотека ПГУ
Дата размещения:18.11.2019
Владелец:Ишков Антон Сергеевич
Ссылка на ресурс:
http://elib.pnzgu.ru/library/1573143775
Формат: Не указан