УСТРОЙСТВО ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ МДП-СТРУКТУРЫ С КОМПЕНСАЦИЕЙ ВЛИЯНИЯ ЕМКОСТИ ДИЭЛЕКТРИКА

Категория: техника
Авторы (ПГУ): Чайковский Виктор Михайлович [100]  
Аннотация: Предлагается подход к измерению параметров МДП-структур, обладающий улучшенными метрологическими характеристиками и осуществляющий измерение с компенсацией влияния емкости диэлектрика. Подход основан на выделении тока, протекающего через исследуемую структуру.
Тип: Статья
Вид: электронная копия бумажного издания
Количество частей: 1
Год издания: 2013
Издательство: Пензенский Государственный Университет
Где опубликовано: Журнал
Индексация: РИНЦ
Целевая аудитория: Преподаватель, Учащийся
Целевое назначение: Научное
Лицензия: Нет ограничений
Ограничения: Нет ограничений
Правообладатель: Пензенский государственный университет
УДК: 621.317.733.011.4
Библиографическая ссылка: Чайковский В.М. УСТРОЙСТВО ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ МДП-СТРУКТУРЫ С КОМПЕНСАЦИЕЙ ВЛИЯНИЯ ЕМКОСТИ ДИЭЛЕКТРИКА // ИЗМЕРЕНИЕ. МОНИТОРИНГ. УПРАВЛЕНИЕ. КОНТРОЛЬ, 2013 №4(6), с.46-52
Страницы (с ... по ...): ч 46 по 52
Внешняя веб-ссылка: https://www.elibrary.ru/item.asp?id=21241368
Язык: Русский
Место хранения:Вне ПГУ
Дата размещения:03.03.2020
Владелец:Чайковский Виктор Михайлович
Ссылка на ресурс:
http://elib.pnzgu.ru/library/1583238583
Формат: Не указан