Estimates of Reliability Indicators for Failure-Free Tests Conducted According to the Binomial Plan

ИР получен из базы данных "Scopus" автоматически
Категория: техника
Авторы (ПГУ): Юрков Николай Кондратьевич [100]  
Тип: Статья
Вид: электронная копия бумажного издания
Количество частей: 1
Год издания: 2020
Издательство: Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc
Где опубликовано: Сборник трудов конференции
Место опубликования: Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies, MWENT 2020 - Proceedings
Индексация: Публикация без квартиля в Web of Science или Scopus (тип документа Proceedings и др.)
Целевая аудитория: Преподаватель
Целевое назначение: Научное
Лицензия: Нет ограничений
Ограничения: Нет ограничений
Правообладатель: N. K. Yurkov, V. S. Mikhaylov
ISBN: 978-172812571-8
DOI: 10.1109/MWENT47943.2020.9067421
Библиографическая ссылка: N. K. Yurkov and V. S. Mikhaylov, "Estimates of Reliability Indicators for Failure-Free Tests Conducted According to the Binomial Plan," 2020 Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies (MWENT), Moscow, Russia, 2020, pp. 1-6. doi: 10.1109/MWENT47943.2020.9067421
Страницы (с ... по ...): 1-6
Внешняя веб-ссылка: https://www.scopus.com/inward/record.uri?partnerID=HzOxMe3b&scp=85083972330&origin=inward
Язык: Английский
Место хранения:ПГУ, вне электронной библиотеки
Ссылка на ЭБС загрузки:http://elibrary.ru/item.asp?id=43267818
Дата размещения:20.11.2020
Владелец:Лысенко Алексей Владимирович
Ссылка на ресурс:
http://elib.pnzgu.ru/library/1587194096