Главная
» Электронная библиотека » Estimates of Reliability Indicators for Failure-Free Tests Conducted According to the Binomial Plan
Estimates of Reliability Indicators for Failure-Free Tests Conducted According to the Binomial Plan
ИР получен из базы данных "Scopus" автоматически
Категория: | техника | |
Авторы (ПГУ): | Юрков Николай Кондратьевич [100] ![]() | |
Тип: | Статья | |
Вид: | электронная копия бумажного издания | |
Количество частей: | 1 | |
Год издания: | 2020 | |
Издательство: | Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc | |
Где опубликовано: | Сборник трудов конференции | |
Место опубликования: | Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies, MWENT 2020 - Proceedings | |
Индексация: | Публикация без квартиля в Web of Science или Scopus (тип документа Proceedings и др.) | |
Целевая аудитория: | Преподаватель | |
Целевое назначение: | Научное | |
Лицензия: | Нет ограничений | |
Ограничения: | Нет ограничений | |
Правообладатель: | N. K. Yurkov, V. S. Mikhaylov | |
ISBN: | 978-172812571-8 | |
DOI: | 10.1109/MWENT47943.2020.9067421 | |
Библиографическая ссылка: | N. K. Yurkov and V. S. Mikhaylov, "Estimates of Reliability Indicators for Failure-Free Tests Conducted According to the Binomial Plan," 2020 Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies (MWENT), Moscow, Russia, 2020, pp. 1-6. doi: 10.1109/MWENT47943.2020.9067421 | |
Страницы (с ... по ...): | 1-6 | |
Внешняя веб-ссылка: | https://www.scopus.com/inward/record.uri?partnerID=HzOxMe3b&scp=85083972330&origin=inward | |
Язык: | Английский | |
Место хранения: | ПГУ, вне электронной библиотеки | |
Ссылка на ЭБС загрузки: | http://elibrary.ru/item.asp?id=43267818 | |
Дата размещения: | 20.11.2020 | |
Владелец: | Лысенко Алексей Владимирович | |
Ссылка на ресурс: | http://elib.pnzgu.ru/library/1587194096 ![]() |