Главная
» Электронная библиотека » Reliability Test Monitoring System of Digital-To-Analog Converter Microcircuits
Reliability Test Monitoring System of Digital-To-Analog Converter Microcircuits
ИР автоматически получен из ЭБС Scoupus
| Категория: | физико-математические науки | |
| Авторы (ПГУ): | Светлов Анатолий Вильевич [50]  , Ишков Антон Сергеевич [50] , Солодимова Галина Анатольевна [0] | |
| Тип: | Статья | |
| Вид: | электронное немультимедийное издание | |
| Количество частей: | 1 | |
| Год издания: | 2020 | |
| Издательство: | IEEE | |
| Место опубликования: | Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies, MWENT 2020 - Proceedings | |
| Индексация: | Публикация без квартиля в Web of Science или Scopus (тип документа Proceedings и др.) | |
| Целевая аудитория: | Исследователь | |
| Целевое назначение: | Производственно-практическое | |
| Лицензия: | Нет ограничений | |
| Ограничения: | Нет ограничений | |
| Правообладатель: | ПГУ | |
| DOI: | 10.1109/MWENT47943.2020.9067470 | |
| Библиографическая ссылка: | A. S. Ishkov, G. A. Solodimova and A. V. Svetlov, "Reliability Test Monitoring System of Digital-to-Analog Converter Microcircuits," 2020 Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies (MWENT), Moscow, Rus-sia, 2020, pp. 1-4, doi: 10.1109/MWENT47943.2020.9067470. https://ieeexplore.ieee.org/document/9067470 | |
| Внешняя веб-ссылка: | https://www.scopus.com/inward/record.uri?partnerID=HzOxMe3b&scp=85083963986&origin=inward | |
| Язык: | Русский | |
| Место хранения: | Вне ПГУ | |
| Дата размещения: | 24.11.2020 | |
| Владелец: | Светлов Анатолий Вильевич | |
| Ссылка на ресурс: | http://elib.pnzgu.ru/library/1589752822  | |
| Формат: | Не указан |