Reliability Test Monitoring System of Digital-To-Analog Converter Microcircuits

ИР автоматически получен из ЭБС Scoupus
Категория: физико-математические науки
Авторы (ПГУ): Светлов Анатолий Вильевич [50]  , Ишков Антон Сергеевич [50]  , Солодимова Галина Анатольевна [0]  
Тип: Статья
Вид: электронное немультимедийное издание
Количество частей: 1
Год издания: 2020
Издательство: IEEE
Место опубликования: Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies, MWENT 2020 - Proceedings
Индексация: Публикация без квартиля в Web of Science или Scopus (тип документа Proceedings и др.)
Целевая аудитория: Исследователь
Целевое назначение: Производственно-практическое
Лицензия: Нет ограничений
Ограничения: Нет ограничений
Правообладатель: ПГУ
DOI: 10.1109/MWENT47943.2020.9067470
Библиографическая ссылка: A. S. Ishkov, G. A. Solodimova and A. V. Svetlov, "Reliability Test Monitoring System of Digital-to-Analog Converter Microcircuits," 2020 Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies (MWENT), Moscow, Rus-sia, 2020, pp. 1-4, doi: 10.1109/MWENT47943.2020.9067470. https://ieeexplore.ieee.org/document/9067470
Внешняя веб-ссылка: https://www.scopus.com/inward/record.uri?partnerID=HzOxMe3b&scp=85083963986&origin=inward
Язык: Русский
Место хранения:Вне ПГУ
Дата размещения:24.11.2020
Владелец:Светлов Анатолий Вильевич
Ссылка на ресурс:
http://elib.pnzgu.ru/library/1589752822