Исследование надежности резисторов в условиях воздействия ионизирующего излучения

Категория: техника
Авторы (ПГУ): Ишков Антон Сергеевич [100]  , Солодимова Галина Анатольевна [0]  , Егоров Денис Владимирович [0]  
Аннотация: Актуальность и цели . Объектом исследования являются резисторы, широко используемые в составе аппаратуры, которая в процессе своей работы может подвергаться различным видам радиационного излучения. Предметом исследования являются радиационные испытания резисторов для определения их способности сохранять значения параметров-критериев годности в пределах заданных норм в процессе и (или) после радиационного воздействия. Целью работы является разработка эффективных способов проведения радиационных испытаний резисторов с целью оценки их надежности. Материалы и методы . Для проведения исследований по радиационной стойкости резисторов применен экспериментальный метод, основанный на использовании моделирующих установок, представляющих источники радиационных воздействий, имеющих единую или близкую физическую природу и характеристики с радиационными факторами, воздействующими на резисторы в реальных условиях эксплуатации. Результаты . Предложена схема для измерения сопротивления резисторов при воздействии радиационного излучения. Получены осциллограммы изменения сопротивления резисторов в процессе воздействия гамма-излучения. Выводы . Получены данные о наличии резкого обратимого уменьшения сопротивления резисторов во время и непосредственно после облучения. Определены факторы, влияющие на надежность резисторов, и уровни снижения сопротивления при радиационном воздействии. Определено время потери работоспособности резисторов в условиях ионизирующего излучения.
Тип: Статья
Вид: электронная копия бумажного издания
Количество частей: 1
Год издания: 2020
Издательство: Пензенский государственный университет (Пенза)
Где опубликовано: Журнал
Целевая аудитория: Промышленность
Целевое назначение: Производственно-практическое
Лицензия: Нет ограничений
Ограничения: Нет ограничений
Правообладатель: ПГУ
УДК: УДК 629.78.023
DOI: DOI 10.21685/2307-5538-2020-1-5.
Библиографическая ссылка: Ишков, А. С. Исследование надежности резисторов в условиях воздействия ионизирующего излучения / А. С. Ишков, А. С. Петров, Г. А. Солодимова, Д. В. Егоров // Измерение. Мониторинг. Управление. Контроль. – 2020. – № 1 (31). – С. 35–42. – DOI 10.21685/2307-5538-2020-1-5.
Страницы (с ... по ...): 35-42
Том: 1
Внешняя веб-ссылка: https://imuk.pnzgu.ru/imuk5120
Язык: Русский
Место хранения:ПГУ, вне электронной библиотеки
Дата размещения:12.11.2020
Владелец:Ишков Антон Сергеевич
Ссылка на ресурс:
http://elib.pnzgu.ru/library/1605189562
Формат: Не указан