К проблеме обеспечения качества металлизации отверстий

Категория: техника
Авторы (ПГУ): Алмашкина Надежда Сергеевна [0]  , Данилова Евгения Анатольевна [100]  
Тип: Статья
Вид: электронная копия бумажного издания
Количество частей: 1
Год издания: 2020
Издательство: Дагестанский государственный педагогический университет
Где опубликовано: Сборник трудов конференции
Индексация: РИНЦ
Целевая аудитория: Преподаватель
Целевое назначение: Научное
Лицензия: Нет ограничений
Ограничения: Нет ограничений
Правообладатель: Алмашкина Н.С., Данилова Е.А.
ISBN: 978-5-907249-66-0
УДК: 621.315
Библиографическая ссылка: Алмашкина Н.С., Данилова Е.А. К проблеме обеспечения качества металлизации отверстий. Полупроводниковые материалы в современной микро- и наноэлектронике. Сборник материалов всероссийской научно-технической конференции. С. 47-51
Страницы (с ... по ...): 47-51
Внешняя веб-ссылка: https://elibrary.ru/item.asp?id=44566680
Язык: Русский
Место хранения:ПГУ, вне электронной библиотеки
Дата размещения:16.11.2021
Ссылка на ресурс:
http://elib.pnzgu.ru/library/1637059161
Формат: Не указан