A framework for generation of monitor and plant model from event logs using process mining for formal verification of event-driven systems

Категория: техника
Авторы (ПГУ): Дубинин Виктор Николаевич [100]  
Тип: Статья
Вид: электронная копия бумажного издания
Количество частей: 1
Год издания: 2024
Издательство: IEEE Publisher
Где опубликовано: Зарубежный журнал
Место опубликования: USA
Индексация: Scopus Q1 (тип публикации Article)
Целевая аудитория: Исследователь
Целевое назначение: Научное
Лицензия: Нет ограничений
Ограничения: Нет ограничений
Правообладатель: IEEE
DOI: 10.1109/OJIES.2024.3406059
Импакт-фактор журнала (SJR): 6.138
Библиографическая ссылка: Xavier M., Dubinin V., Patil S., Vyatkin V. A framework for generation of monitor and plant model from event logs using process mining for formal verification of event-driven systems // IEEE Open Journal of the Industrial Electronics Society. – 2024. – Volume 5. – P. 517-534.
Внешняя веб-ссылка: https://ieeexplore.ieee.org/document/10550182
Язык: Английский
Место хранения:Вне ПГУ
Дата размещения:02.11.2024
Владелец:Дубинин Виктор Николаевич
Ссылка на ресурс:
http://elib.pnzgu.ru/library/1730523914
Формат: Не указан