Уязвимость симметрии двух проколов энтропии нейросетевой биометрии, построенной на бинарных нейронах или нейронах с многоуровневыми квантователями

Категория: техника
Авторы (ПГУ): Иванов Александр Иванович [0]  , Иванов Алексей Петрович [100]  , Серикова Юлия Игоревна [0]  
Тип: Статья
Вид: электронная копия бумажного издания
Количество частей: 1
Год издания: 2026
Издательство: Астраханский государственный университет имени В.Н. Татищева
Место опубликования: Астраханский государственный университет им. В.Н. Татищева
Индексация: ВАК К2 (тип публикации Научная статья)
Целевая аудитория: Исследователь
Целевое назначение: Научное
Лицензия: Нет ограничений
Ограничения: Нет ограничений
Правообладатель: Издательство
Библиографическая ссылка: Иванов, А. И. Уязвимость симметрии двух проколов энтропии нейросетевой биометрии, построенной на бинарных нейронах или нейронах с многоуровневыми квантователями / А. И. Иванов, Ю. И. Серикова, А. П. Иванов // Прикаспийский журнал: управление и высокие технологии. – 2026. – № 1(73). – С. 110-118. – EDN GRUQRW.
Внешняя веб-ссылка: https://elibrary.ru/item.asp?id=89339927
Язык: Русский
Место хранения:Вне ПГУ
Дата размещения:10.05.2026
Владелец:Иванов Алексей Петрович
Ссылка на ресурс:
http://elib.pnzgu.ru/library/1778413811
Формат: Не указан