Modeling of Dependence of Dielectric Parameters of Double-layer Ferroelectric Structure on Temperature and Layers Thickness

ИР автоматически получен из ЭБС Scoupus
Категория: техника
Авторы (ПГУ): Печерский Анатолий Вадимович [20]  , Печерская Екатерина Анатольевна [80]  , Зинченко Тимур Олегович [0]  , Голубков Павел Евгеньевич [0]  , Фимин Андрей Владимирович [0]  , Николаев Кирилл Олегович [0]  
Аннотация: https://ieeexplore.ieee.org/document/8337181
Тип: Статья
Вид: электронная копия бумажного издания
Количество частей: 1
Год издания: 2018
Издательство: Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc
Где опубликовано: Журнал
Место опубликования: Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies, MWENT 2018 - Proceedings
Целевая аудитория: Исследователь
Целевое назначение: Научное
Лицензия: Нет ограничений
Ограничения: Нет ограничений
Правообладатель: Печерская Е.А.
DOI: 10.1109/MWENT.2018.8337181
Внешняя веб-ссылка: https://www.scopus.com/inward/record.uri?partnerID=HzOxMe3b&scp=85051008273&origin=inward
Язык: Русский
Место хранения:ИР открытого доступа
Дата размещения:13.11.2018
Владелец:Печерская Екатерина Анатольевна
Ссылка на ресурс:
http://elib.pnzgu.ru/library/20531200