Modeling of Dependence of Dielectric Parameters of Double-layer Ferroelectric Structure on Temperature and Layers Thickness. Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies (MWENT), Moscow, 2018, pp. 1-4. DOI: 10.1109/MWENT.2018.8337181

Категория: техника
Файл не загружен в библиотеку
Авторы (ПГУ): Печерский Анатолий Вадимович [20] , Печерская Екатерина Анатольевна [80] , Зинченко Тимур Олегович [0] , Голубков Павел Евгеньевич [0] , Фимин Андрей Владимирович [0] , Николаев Кирилл Олегович [0] 
Аннотация: https://ieeexplore.ieee.org/document/8337181
Тип: Статья
Вид: электронная копия бумажного издания
Количество частей: 1
Год издания: 2018
Издательство: Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc
Где опубликовано: Журнал
Индексация: Scopus (тип документа Proceedings, Review и др.)
Целевая аудитория: Исследователь
Целевое назначение: Научное
Лицензия: Нет ограничений
Ограничения: Нет ограничений
Правообладатель: Печерская Е.А.
Язык: Русский
Место хранения:ИР открытого доступа
Дата загрузки ИР: 13.11.2018Владелец ИР: Печерская Екатерина Анатольевна
Ссылка на ресурс: