Исследование полупроводниковых оксидных слоев методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

Ошибка подключения к БД
Авторы (ПГУ): Булаев Андрей Николаевич [100] 
Год защиты: 2024
Специальность:
Название: Исследование полупроводниковых оксидных слоев методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Владелец: Вигерич Надежда Филипповна
Дата: 25.06.2024
Тип документа: Выпускная квалификационная работа (ВКР)
Дата создания:28.06.2024 13:56
Файл для скачивания:
Ссылка на ресурс:
http://elib.pnzgu.ru/library_doc/54362